一、STM32的内部参照电压VREFINT和ADCx_IN17相连接，它的作用是相当于一个标准电压测量点(和MSP430不一样。。)，内部参照电压VREFINT只能出现在主ADC1中使用。
内部参照电压VREFINT与参考电压不是一回事。ADC的参考电压都是通过Vref+提供的并作为ADC转换器的基准电压。
当我们使用的Vref+是直接取自用VCC电压时，当VCC电压波动比较大时或稳压性能比较差时，可以借用STM32的内部参照电压VREFINT校正测量精度。
以测量1通道的电压值为例，先读出参照电压的ADC测量结果，记为ADre；再读出要测量通道1的ADC转换结果，记为ADch1；则要测量的电压为：
Vch1 = VREFINT* (（（ADch1*（VREF/4096））/（ADre*（VREF/4096））)
注：VREFINT=1.2V，VREF为参考电压值=3.3V
公式简化：
Vch1 = VREFINT*（ADch1/ADre）
这种方法等于变相将内部参照电压VREFINT当成是ADC参考电压，也就是说，此时Vref参考电压的准确度已在此已对结果影响不大了，ADC的转换结果基本由VREFINT的精度决定。
注：一般情况下，这种办法只适合于当Vref+参考电压（其实也就是VCC电压）离散性实在太差的情况下使用。
我们知道，STM32中64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VCC信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VCC上的电压，那么我们可以使用一个高精度的外部参照电压，然后用上面的方法，也许可以解决因VCC电源电压精度不高带来的ADC测量不准确的问题。
本帖最后由 abbott 于 2014-5-5 08:56 编辑
建议采用以下方法结合使用：
1，采用内部参考
内部参考在芯片出厂时已经校准过精度了！（不清楚是否所有型号都校准过）
其厂内校准过程是在外部供3V电源，将采样内部参考的ADC值写入校准寄存器VREFINT_CAL！
因此，我们可以使用以下公式算出实际电压：
V=(3*VREFINT_CAL*ADC_DATA)/(VREFINT_DATA*FULL_SCALE)
根据这个公式，程序需要获取VREFINT_DATA和ADC_DATA!
不过我们实际测试这个电压参考在低温下偏差比较大，可能是芯片本身的问题，目前还不清楚是全系列，还是个别型号有这个问题！
2，使用过采样!
二、请教原子大哥，怎么获取VREFINT_CAL的值（就是1.2V）？
STM32F030的，ADC模块的内部参考电压VREFINT，datasheet说出厂时把校准值写入了VREFINT_CAL，地址是0x1FFF F7BA - 0x1FFF F7BB，见F030的datasheet 17页。
可是在程序中用
Data2 = *(__IO uint32_t *)(0X1FFFF7BB);或者
Data1 = *(__IO uint32_t *)(0X1FFFF7BA);
都是跳到了硬件错误中断HardFault_Handler中，这是问什么？
还有类似的，ADC有个内部温度通道，也有个校准值，
说是出厂时存到了0x1FFF F7B8 - 0x1FFF F7B9 0x1FFF F7C2 - 0x1FFF F7C3，我试了一下只有0x1FFF F7B8这个地址能读取，其他的一读就跳到了硬件错误中断，这是为啥？
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知道怎么回事了，指针用错了。存在那个地址里的数据是8位的，我用的是32位的指针，一读就读出界了，所以就发生硬件错误了
三、STM32芯片ADC内部的CH17参考电压的用途 |
每个STM32芯片都有一个内部的参照电压，相当于一个标准电压测量点，在芯片内部连接到ADC1的通道17。
根据数据手册中的数据，这个参照电压的典型值是1.20V，最小值是1.16V，最大值是1.24V。这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化。
不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆。ADC的参考电压都是通过Vref+提供的。100脚以上的型号，Vref+引到了片外，引脚名称为Vref+；64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VCC信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VCC上的电压。
在ADC的外部参考电压波动，或因为Vref+在芯片内部与VCC相连而VCC变化的情况下，如果对于ADC测量的准确性要求不高时，可以使用这个内部参照电压得到ADC测量的电压值。
具体方法是在测量某个通道的电压值之前，先读出参照电压的ADC测量数值，记为ADrefint；再读出要测量通道的ADC转换数值，记为ADchx；则要测量的电压为：
Vchx = Vrefint * (ADchx/ADrefint)
其中Vrefint为参照电压=1.20V。
