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HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析
HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析 测试概要 测试目的 分析HC32F003系列芯片几种时钟源的性能差异 主要分析频率 占空比的误差范围 测试项目 分别测试以下几种时钟源的性能 每种测试不少于10次 内部高速4MHz 内部高速8M
嵌入式
HC32F003时钟频率
HC32F005时钟频率
时钟频率误差分析