ATE:Automatic Test Equipment,即自动测试设备,它用于芯片大规模生产测试,保障稳健(质量、成本和进度)的供应 。
ATE测试基本的覆盖理念:主要是结构性测试,即Structure Test,再辅以一定的功能和性能测试,与Function测试有较为明显的差异,ATE测试重点在于检测制造缺陷。常见的ATE测试类别如下:
1)IO类:
---主要用JTAG进行覆盖,并且会进行一些DC参数的测试,如VIH、VIL、VOH、VOL、Leakage等。
2)Digital Logic类:
---主要用SCAN方式进行覆盖,如Stuck-at、transition等,若存在覆盖率问题可添加功能向量。
3)Memory类:
---主要用BIST方式进行覆盖。
4)IP类:
---内嵌数字电路:用SCAN覆盖。
---模拟电路:测试功能和性能,辅以BIST。
5)功耗类:
---通常采用IDDQ进行覆盖,亦可进行动态功耗测试。
6)特殊类:
---Die ID、基准trim、加密烧写、SIP、POP、分级筛选等。
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