CQC样机送检时发现,经过EFT 4KV 测试后,发现RS485通讯中断,经检查是78L05 芯片损坏了,断电无法恢复。
本次测试的原理图及损坏器件位置如下:红色标记AU1为损坏的稳压管位置。 故障复现: 测试方法:EFT共模测试,测试等级4KV,LN同时注入干扰。 该现象第一次发现,经更换测试,批次BC610的78L05,做了6PCS 5次以上均正常,未发现损坏现象。记录如下: 初步结论1:BC910及BC922批次比较容易损坏。其他批次则未出现异常。 针对922批次再测试10PCS,结果如下:实验3次损坏概率70%。 经追溯,该器件为ST原厂供货。 水平展开测试其他产品的试验结果: 仪表型号 序列号 第一次 第二次 第三次 第四次 电源芯片 通讯芯片 130s 190500454 √ √ √ BC802 RD485NE 190500397 √ √ √ BC802 RD485NE 190500386 √ √ √ BC802 RD485NE 190500406 √ √ √ BC802 RD485NE 190500396 √ √ √ BC802 RD485NE 190500415 √ √ √ BC802 RD485NE 190500422 √ √ √ BC802 RD485NE 190500424 √ √ √ BC802 RD485NE 190500407 √ √ √ BC802 RD485NE 190500451 √ √ √ BC802 RD485NE
130V1.20 190600177 √ √ √ BC802 6LB184 190600175 √ √ √ BC802 6LB184 190500320 √ √ √ BC802 6LB184 190500333 √ √ √ BC802 6LB184 190500331 √ √ √ BC802 6LB184 190500322 √ √ √ BC802 6LB184 190500326 √ √ BC802 6LB184
230v1.20 190500130 √ √ √ BC802 6LB184 190500152 √ √ √ BC802 6LB184 190702767 √ √ √ BC802 6LB184
220GS 190800095 √ √ √ BC910 胶太厚看不清 190302456 √ √ √ BC806 RD485NE 190800126 √ √ √ BC910 RD485NE 190800190 √ √ √ BC910 RD485NE 190600298 √ √ √ BC806 RD485NE 190800120 √ √ √ BC910 RD485NE 190800268 √ √ √ BC910 RD485NE 190201478 √ √ √ BC806 RD485NE 190302459 √ √ √ BC806 RD485NE 190800196 √ √ √ BC910 RD485NE
根据测试结果, 其他产品工作都正常,未发现不良。再次验证240GSV1.30 结果如下: 以上为8.16日测试结果。结论还是BC922批次容易损坏。 坏片分析:对比损坏的样品跟正常样品的电气特性: 坏片在线测试:输入正常 无输出 坏片输出阻抗 由上表得知: 坏片跟好片阻抗测试无差异 不同批次的输出阻抗表现不一致,且芯片损坏情况未在输入阻抗中表现出来,需要厂家进一步分析确定损坏原因。
无极性485发热问题 本问题可以复现,更换65LBC184测试均未发现问题。优化措施如下: 测试结果如下:对485发热效果有明显改善。 再无磁珠作用下,910批次共3片,试验1~2次均损坏。 加磁珠后,试验4次均正常。 且对485发热现象有一定程度缓解,但未能根治。 验证485芯片发热后对总线波形影响: 常总线波形如下: 发热芯片仪表接入总线后波形如下 可以看到无极性485的极性发生了混乱,影响总线正常工作。
增加串联双磁珠及去掉GND磁珠测试,均无更好效果。
1、修改PCB,按下图位置增加EFT防护器件。 2、修改BOM,485芯片BOM变更为65LBC184(该芯片 测试中未出异常)。
本次测试中发生一个小插曲:故障无法复现 后来再次测试设备恢复正常。因此: 性能测试可能因设备状态或者外部环境差异导致结果出现本质差异,需注意观察并根治。