1、Nand Flash组织架构

• Device（Package）就是封装好的nand flash单元，包含了一个或者多个target。
• 一个target包含了一个或者多个LUN，一个target的一个或者多个LUN共享一组数据信号。
• 每个target都由一个ce引脚（片选）控制，也就是说一个target上的几个LUN共享一个ce信号。

LUN(Die)：

• LUN是执行命令的最小单元，不同的LUN可以执行不同的命令序列
• LUN包含一个或多个plane（通常有1 2 4 8）

Plane：

• 一个plane包含一个或多个块（通常几百上千个）
• 每个plane有独立的page register 和 cache register(优化闪存访问速度)

Block：

• 块是最小的擦除单位
• LUN中块的数量是没有限制的
• 块包含很多个页，数量必须为32的倍数

Page：

• 页是最小的读写单元
• 页包含很多个字节（大小通常为2的幂不包括spare区域）

Spare：

• 存储ECC值、坏块标记等。大小2K—> 64byte 4K —>128K 8K—>256

2、存储器原理

闪存的基本存储单元Cell，为非易失性存储器。(在源极（Source）和漏极（Drain）之间电流单向传导的半导体上形成存储电子的浮栅，浮栅上下被绝缘层包围，存储在里面的电子不会因为掉电而消失，所以闪存是非易失性存储器。)

Cell是闪存的最小工作单位，执行数据存储的任务。闪存根据每个单元内可存储的数据量分成SLC（1bit/Cell）、MLC（2bit/Cell）、TLC（3bit/Cell）和QLC（4bit/Cell），成本依次降低，容量依次增大，耐用度也依次降低

2.1、写/擦除原理

写操作是在控制极加正电压，使电子通过绝缘层进入浮栅极。擦除操作正好相反，是在衬
底加正电压，把电子从浮栅极中吸出来

2.2、块组织架构

一个闪存芯片有若干个DIE（或者叫LUN），每个DIE有若干个Plane，每个Plane有若干个Block，每个Block有若干个Page，每个Page对应着一个Wordline，Wordline由成千上万个存储单元构成

2.3、读/写/擦除

2.3.1、擦除

擦除前，浮栅上有可能有电子，Pwell加20V电压，经过足够时间后，由于量子隧道效应，电子从浮栅到沟道里面，完成一个Block的擦除 。

2.3.2、写

要写的单元Wordline为高电压，Bitline=0V；由于量子隧道效应，电子从沟道到浮栅，成为“0”。不写的单元Bitline为2V，在沟道里的效应阻碍了量子隧道效应发生

2.3.3、读

不读的Wordline=5V，管子保持导通；要读的单元Wordline=0V，-VT 的管子导通，Bitline端的传感器能够检测到，所以读到“1”，而经过写的+VT的管子不导通，传感器读为“0”。

3、读/写/擦除

大体流程如下：

Nand Flash LUN功能框图：

其中有地址寄存器、状态寄存器、命令寄存器等，后面依次介绍。

3.1、寻址

寻址方式：

• 行地址：页内偏移
• 列地址：在ONFI协议中，高位到低位依次表示：LUN地址、块地址、页地址
  

注意：
1、当需要同时发出列地址和行地址时，列地址总是在一个或多个8位地址周期中首先发出。
2、在擦除的时候，列地址不需要发送。

访问数据都是要先通过地址进行定位，在上图中可以看到有12根列地址线（A0-A11）和17根行地址线（A12-A28），总共29根地址线。数据线是8位，一次只能发送8bit，所以地址需要多个周期发送，上图显示的是5cycle发送

3.2、擦除

擦除以块为单位，不需要列地址。

时序图如下：

3.3、读

时序图如下：

3.4、写

时序图如下：

3.5、状态寄存器

当SR[6]为0时，其他所有位无效(WP_n除外)，主机需要忽略其状态。

• FALL(0)： 返回最近一条命令的结果。1 失败 0 成功。
• FALLC(1)： 返回上一条命令的结果。1 失败 0 成功。
• VSP(2 3 4)：厂商自定义。
• ARDY(5)：1，没有正在执行的Flash array操作。 0 ，最后一条命令的上一条命令还未执行完成。
• RDY(6)：1，表示最后一条命令执行完成并处于ready状态。0，最后一条命令还未完成，SR[5]也无效。
• WP_n(7)：1，没有开启写保护。 0 开启写保护。

4、数据接口

• NV-DDR：双边沿采样，并采用源同步时钟来精确所存数据、命令、地址信号。
• NV-DDR2：引入了差分信号和On-Die Termination (ODT)技术来提升信号质量。
• NV-DDR3：NV-DDR3引入了多项校准技术，包括ZQ Calibration、Duty Cycle Correction (DCC)和读/写DQ校准。
• NV-LP-DDR4：和NV-DDR3速率相同，优势在于采用LTT技术后可大幅度降低读操作功耗

各个接口的信号线：

• R/B_n：Ready/Busy。闪存正在进行内部读的时候，Busy_n有效，当操作完成且数据准备好之后，Ready有效，用户可以来读了
• CLK：时钟。时钟信号由用户产生，在时钟信号的上升沿和下降沿都有数据被触发，实现DDR，意味着100MHz的时钟频率数据传输速率是200MT/s
• W/R_n：Write/Read_n。写的时候高电平，读的时候低电平
• DQS：Data Strobe。DQS用来区分出每个数据传输周期，便于接收方准确接收数据。读数据时，DQS由闪存产生，DQS上下沿和数据对齐。写数据时，DQS由用户产生，DQS中间对应数据的中间稳定区域。所以，DQS可以看成数据的同步信号
• DQ[7：0]：数据总线
• WE_n：Write Enable，写使能，这个信号是用户发给闪存的，有效时意味着用户发过来的写数据可以采样了
• RE_n：读使能。这个信号是用户发给闪存的，每发一个读使能，闪存就在数据总线上准备好数据，等用户采样