75、某个手持测试产品，可以电池供电，同时也可以采取外置适配器供电方式。适配器单独带负载辐射发射（RE）测试可以通过，手持产品在电池供电情况下辐射发射（RE）也可以通过，并且余量都比较大，但是在带外置适配器的情况下，却在 160M 频率左右超标较多，不能通过认证。是何原因？怎么定位干扰源？耦合途径？定位清楚如何解决？
答：本身这个问题干扰源有两个可能，适配器的开关频率，手持测试产品本身的晶振以及内部的开关电源频率。单独测试没有超标，搭配测试超标说明耦合途径是产品的电源电缆。
定位时可以有多个办法：
1、在电源输出线缆（也就是产品电源输入线）的两端分别加磁环试验，如果靠近适配器相对下降比较大，说明是适配器导致，否则原因就是由手持产品内部干扰源导致；
2、在手持产品的电源输入接口共模电感采取频谱仪测试看那一端干扰幅度大，如果是共模电感里侧的干扰大，则说明是手持产品的干扰；
3、如果怀疑外部适配器，干脆直接替换测试，如果没有这个频点，就说明是适配器问题。
通过上面方法定位后发现，确实是电源适配器问题。尽管开关电源频率只有 KHZ 级别，但往往干扰能够到几十、几百 MHZ，同时电源适配器负载不同，空间辐射发射的测试结果也会不一样。
76、我们做的是一个手持设备，带电池工作在做辐射发射测试时，在 700M 的点超标。回来后我们把辐射源定位在了 10M 的有源晶振和 dsp 的内部 PLL 电路上。首先我们改善了晶振的电源滤波电路，加上了 10uf和 0.1uf 的电容，700M 这个点有明显的降低，但是 800M 点上却上升较多。其次我们更换了直插的晶振为贴片的，以减小其扇出能力，改善效果不大。请问还有其他什么办法可以改进吗？晶振的滤波电路有什么特殊要求？
答：从你描述情况看，本身源头可能是 10MHZ 晶振，或内部的 10MHZ 倍频，对于 700MHZ 或 800MHZ 的高频超标，有几个方面可以处理：晶振处理：供电电源滤波，时钟走线采取 RC 滤波，或用磁珠替代电阻滤波；另外如果能够定位是单板走线对外辐射的话，可以针对对外辐射走线进行滤波，如磁珠、电容；由于超标是高频，很有可能是你的 PCB 单板地阻抗比较大，有较大地地环路，这个方面需要你查看 PCB 设计；另外如果你的设备是金属壳，那可以从屏蔽角度看是否有屏蔽泄漏！如果是接口电缆对外辐射，可以对电缆接口进行滤波处理，具体措施针对不同接口有所不同。
77、经常设计时候没有人提起 EMC，或对 EMC 重视程度不够；开模后或产品定型后有关 EMC 问题就出来了。怎么解决这个问题？
答：这个问题在我们大多企业都会遇到，关键是企业没有一套严格的 EMC 设计流程！大多工程师没有 EMC设计经验，导致工程师没有把 EMC 设计理念融入到产品前期的研发过程中，这样出现问题也就不足为怪了。我们建议企业首先需要培养工程师的 EMC 设计水平，同时提高他们的设计意识，另外更重要的是要建立一套 EMC 的设计流程与平台，比如，需要有 EMC 设计的原理图规范，并有设计检查控制列表，有引导，有监控，那么，EMC 设计在前期才能真正落实，后期的产品出来的 EMC 指标也才有保证！ 这个问题当然还是一个系统问题，涉及范围比较广，结构、电源、硬件电路、PCB 等方面。
下载地址：
https://download.csdn.net/download/u013749113/87622718
