芯片可靠性与商规、工规、车规

2023-11-05

在芯片的国产化浪潮下,国产芯片的出货量和替代率近年来迅速飙升。按出货量比率看,消费电子领域,电源管理芯片和射频前端芯片国产替代率已超过70%;工控通信领域,电源管理和信号链芯片国产替代率也超过20%;汽车电子领域,电源管理和功率器件的国产替代率尚不足10%。

为了抓住商机,争取项目和订单,许多公司铤而走险,在未完成可靠性实验或可靠性实验已明确未通过的情况下,强行提供可靠性报告,透支信用,进而拉低国产芯片身价,卷入价格战泥潭,不禁令人唏嘘,哀其不幸,怒其不争。

今天小潮就来聊聊芯片的可靠性。

根据个人多年从业经验,芯片可靠性可以粗略分为三个大类:静电类可靠性、生产类可靠性以及寿命类可靠性。
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一、 静电类可靠性

静电类可靠性主要为ESD (Electro-Static discharge)。作为最高频的失效原因,ESD防不胜防,是造成终端产品客诉的主要元凶。在生产、组装、测试、存放、运输等过程中都有可能将电荷积累在人体、仪器和设备中,在不经意间接触就会形成放电路径甚至不接触空气放电,瞬间高压将芯片击穿,从而出现ESD失效。

Latch-Up和Surge与静电无关,但检测机构和测试手法与ESD相似相通,为方便分类和查阅,暂且归在本领域。

1.1 ESD HBM (Human body model)—人体带电模型,标准JESD22-A114

人体是良导体,很容易积累电荷,特别是冬天干燥的情况下,经常出现对人或对金属放电的现象。HBM就是衡量人体将所积累的电荷释放给芯片的场景下,芯片的静电承受能力。一般厂商都会要求±500V步进,测到最高水平,±1000V为最低通过标准,部分产品会要求±2000V。

1.2 ESD CDM (Charge Device Model)—充电器件模型,标准JESD22-C101

芯片在加工制造、测试运输过程中也会积累电荷,在后续的管脚接触中放电。CDM衡量的是芯片自己积累电荷对地放电的场景下,芯片的静电承受能力。一般厂商都会要求通过标准为±500V,四角的管脚有时候会要求最低±750V。

1.3 ESD MM (Machine model)—机器模型,标准JESD22-A115C

加工机台或测试机台未良好接地时,也会积累电荷,与芯片接触就会放电。MM衡量的是机台积累的电荷释放给芯片的场景下,芯片的静电承受能力。因为现在生产测试流程都很规范,机台和工人接地都很充分,大多数厂商现在都不会看MM能力,非要卡的话,±200V即可,少数高标准客户会要求±500V。

1.4 LU (Latch-Up)—闩锁,标准JESD78E

CMOS工艺的P阱、N阱和衬底之间结合会导致寄生出n-p-n-p结构,当其中一个三极管正偏时,就会发生正反馈形成闩锁,电流越来越大,最后烧毁芯片。LU衡量的是芯片出现闩锁效应下的过流能力。一般会以1.5*VCC,100mA作为通过标准。

1.5 Surge—浪涌,标准IEC-61000-4-5

给芯片供电的VBAT、VCC、VDD不会一直稳定,经常出现浪涌现象,和ESD相比,电压等级很低,但持续时间较长,最后会热烧毁。Surge衡量的是芯片在供电管脚发生浪涌时,能承受的浪涌电压能力。根据用途要求不同,Power芯片要求会高一些,信号类芯片一般要求1.6-2倍VCC。

二、 生产类可靠性

生产类可靠性主要为晶圆在封装过程中的质量管控。某个工序处理的不到位,后面的寿命可靠性就会大打折扣,一般会要求封装厂做,芯片厂不用投入精力。

2.1 BP (Bond Pull Strength)—打线拉力强度,标准MIL-STD-883-2011

2.2 BS (Bond Shear)—键合剪切,BP的补充,标准JESD22-B116

2.3 DS (Die Shear strength)—晶粒粘接强度,标准MIL-STD-883-2019

2.4 SD (Solderability)—可焊性,标准JESD22-B102

三、寿命类可靠性

寿命类可靠性是衡量芯片规格高低的最重要因素,业界常说的商规工规车规也在这里体现。为了预测芯片可以使用多少年,一般会采用高温、高湿、高压环境加速芯片老化,然后通过换算得知芯片的使用寿命。

3.1 PC (Precondition)—预处理。标准JESD22-A113

PC是寿命类可靠性的前置实验,将三个批次各77颗样片进行烘烤、浸湿、过三次回流焊,然后将实验品分批,给其他项目试验。

3.2 TC (Temperature cycle)—温度循环,标准JESD22-A104

从低温到高温循环,温度变化较慢,衡量芯片承受冷热冲击的能力。一般为-45°C125°C,1000循环;也有些客户要求-60°C125°C,500循环。

3.3 TS (Temperature shock)-温度冲击,标准为JESD22-A106

快速从低温到高温,检验芯片的抗温度冲击能力。一般要求-45°C~125°C,驻留时间10分钟,移动时间20秒,300或500循环。

3.4 AC (Autoclave)—高压釜/高压蒸煮,标准为JESD22-A102

利用高温、高压、高湿测试芯片对湿气的抵抗能力。一般在121℃, 100% RH, 205kPa下测试96小时。

3.5 THB (Temperature Humidity Bias)—温湿度偏压,标准为JESD22-A101

和AC测试类似,高温高湿环境下加速老化,不同的是需要加偏压。一般在85℃, 85%RH,加电,测试1000小时。

3.6 BHAST (Biased High Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)—高加速应力测试,标准为JESD22-A110

在高温高湿高压环境下,加速湿气对产品的侵入。一般在130℃, 85%RH,VCCmax测试96小时;或者110℃, 85%RH,VCCmax测试264小时。因为测试手法相似,THB和HAST可以二选一做。

3.7 uHAST (Unbiased High Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)—高加速应力测试,标准为JESD22-A118

与BHAST相比,不用加偏压,其他都一样。

3.8 HTS (High Temperature Storage)—高温存储,标准为JESD22-A103

检验在高温环境下存放的时间,一般要求150°C,1000小时。

3.9 LTS (Low Temperature Storage)—低温存储,标准为JESD22-A119

检验在低温环境下存放的时间,一般要求-40°C,168小时以上。因为低温存放场景几乎没有,大部分客户不会要求此项测试。

3.10 HTOL (High Temperature Operating Life)—高温工作寿命,标准为JESD22-A108

HTOL可谓是可靠性测试中最重要的一项,最贴切的模拟芯片工作的环境,然后通过高温和高压,加速芯片工作老化,从而推算芯片的使用寿命。业界通常说的可靠性多少小时基本都指的HTOL。一般按照125°C,VCCmax,1000小时测试。

温度加速因子主要与实验温度、使用温度、表面活化能相关,一般125°C,1000小时的HTOL对应的温度加速因子为77.94,对应55°C下可工作8.9年。一般做HTOL的电压会比推荐最高工作电压高10%,以推荐最高工作电压1.8V为例,实验电压2V,电压加速因子为1.22,叠加温度加速因子后,总时间加速因子为93.3,对应常温下使用寿命13.2年,满足绝大部分场景应用。
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3.11 DT (Drop Test)—跌落测试,标准为JESD22-B111

终端在使用中经常会跌落,振动,DT衡量的是芯片抗跌落振动的能力。一般选择1500G加速度,0.5ms半正弦波周期,200次冲击。

3.12 MS (Mechanical Shock)—机械冲击,标准为JESD-47

在0.5ms脉冲时间内,1500G的加速度冲击脉冲,X/Y/Z三轴各五次。
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四、商规、工规、车规

Commercial、Industrial、Automotive是业界对行业的简单划分,各自领域对可靠性的要求也全然不同。

4.1商规

商规标准主要约束消费类电子行业的器件,因为行业属性,终端用个两三年,坏了就扔,没有什么后果,迭代较快。因此温度范围-20°C~65°C就可以满足,使用寿命五年即可,对应可靠性实验500小时。但近年来许多消费类电子客户不断提高标准,希望设备更耐用,现在基本都要求1000小时。

4.2工规

工规标准主要约束工业控制、通信、医疗等行业的器件。这些行业的设备普遍单价较高,使用寿命要求5年以上,且环境较恶劣,因此温度范围要求-40°C~85°C,使用寿命五年以上,对应可靠性实验1000小时,部分户外产品要求2000小时可靠性。

4.3车规
车规标准主要约束汽车电子行业的器件。由于终端产品太过昂贵,会处在各种极端环境下工作,且关乎乘客人身安全,因此车规另成体系,遵循AEC-Q系列标准。如针对单芯片的AEC-Q100,针对分立器件的AEC-Q101,针对光电器件的AEC-Q102,针对多芯片器件的AEC-Q104,针对无源器件的AEC-Q200等。根据使用场景的不同,也会分为Grade0~3,温度要求从最低的Grade 3 -40°C~85°C到最高的Grade 0 -40°C~150°C不等。汽车电子一般要求使用寿命10年以上,而高温高压下的1000小时HTOL也可以满足10年使用寿命。车规最特殊的地方当属专用产线,晶圆产线和封测产线必须满足车规ITAF16949标准,且将车规和非车规分线加工。近年来汽车竞争加剧,新车迭代加速,很多非核心物料也开始采用商规产品打擦边球,由于现在商规物料大部分都已经做1000小时可靠性了,因此风险较小,不用太过担心。

写在最后
质量是一个公司的生命线,值得公司每一个员工重视。只有芯片可靠,客户使用后客诉少,才能逐步建立品牌形象,打下长远发展的基石。

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