电子产品的信号测试验证过程中，不可避免地，需要进行高低温工况下的信号完整性测试，但是，目前的高速有源探头的工作温度范围有限不足以直接使用，为此，诸如泰克、是德科技等仪器公司，都有相对应的测试解决方案，基本采用的是“焊接前端+温度延长线+有源探头”的策略，但是，级联越多，带来的损耗也就越大，因此，使用前，需要进行一些额外的去嵌处理。
小编使用的是N5381B/E2677A+N5450B+1134A的探头系统组合，以应对MIPI D-PHY的测试，组件的基本信息如下：
1）N5381B焊接前端：12GHz, -40~85℃
2）E2677A焊接前端：12GHz, -25~80℃
3）N5450B扩展温度延长线：34GHz, -55~150℃
4）1134A差分探头：7GHz
级联完成后，测试之前，建议先做一次通道校准。
延长线去嵌功能的开启
连接好探头后，需要在探头配置对话框中，勾选“Extension Cable”（如下图红色虚线框所示），示波器会自动将默认的线缆模型加入“Probe System”中（如下图蓝色虚线框所示，此时信息显示的是N5450A，因为N5450B是其替代型号，这个没有影响）：
最后焊接前端连接DUT，以一个480MHz的MIPI CLK信号测试为例，如下图所示，经过对比发现，如果不开启线缆的去嵌功能，将对同一组测试数据的边沿及幅度产生衰减作用，这种作用将会在高低温时表现得更为明显；
并且，通过下列数据的对比，可以发现，级联的损耗更多的体现在对信号边沿的衰减上，这对于时序要求更为严苛的测试项目，更需要关注去嵌功能的使用；
使用注意事项：
E2677A由于温度范围有限，推荐N5381B+N5450B的组合，进行温度试验，探头不可以直接放进温度箱；
每次换用不同型号的焊接前端时，之前的校准状态将会无效，推荐“焊接前端+延长线+探头”的方式，对系统进行重新校准。
